JB_T 9674-1999
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ID： |
7120C55EFF6B43B8940468781E671962 |
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文件大小(MB)： |
0.1 |
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页数： |
4 |
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文件格式： |
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日期： |
2008-1-6 |
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JB/T 9674-1999,前言,本标 准 是 对JB/Z2 62-8“超声波探测瓷件内部缺陷》进行的修订,本标 准 的 编写格式和方法符合GB/T 1.1- 1993,本标 准 保 留JB/Z2 62-86的技术内容,本标 准 根 据GB/T 5616-1985《常规无报探伤应用导则》规定，增加了“无损探伤人员，必须具备国家,有关主管部门颁布的无损检测人员技术资格证书”的要求,本标 准 自 实施之日起，同时代替JB/Z2 62-86,本标 准 由 全国绝缘子标准化技术委员会提出并归口.,本 标 准 起草单位:西安电瓷研究所,本 标 准 主要起草人:胡声波、何正林,中华人民共和国机械行业标准,dB/T 9674-1999,超声波探测瓷件内部缺陷代替lB/Z 262-86,Ultrasonic test for detecting Internal defects in ceramic,范围,本 标 准 规定了直径大于50m m的实心条瓷，壁厚大于30m m的直筒形瓷套进行超声波探伤的一般,规定、测试要求、人工标准缺陷试样、探伤仪工作灵敏度、判废依据、记录等,本 标 准仅 适应以A型脉冲反射式超声波探伤仪，用接触法对瓷件进行纵向超声波探伤,2 引用标准,下列 标 准 所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。在标准出版时，所示版本均,为有效。所在标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性,GB 7 7 2- 1987 高压绝缘子瓷件技术条件,GB /T 2 900.8-1995电工术语绝缘子,GB /T 5 616-1985 常规无损探伤应用导则,3 定义,本标 准 所 用术语的定义除应符合GB/T2 900.8规定外，还应采用下列定义,3.1 超声波探伤ultrasonic testing,利用 超 声 波的指向性和传播规律来检查工件中存在的缺陷情况.,3.2 探伤仪的工作灵敏度operating sensitivty of defects detector,在一 定 条件下规定超声波探伤仪探测缺陷大小的能力,3.3 纵波longitudinal wave,介 质 质 点振动方向与波的传播方向一致的波,3.4 直探头normal probes,用 于纵 波探伤的探头,3-S 水平线性level linearity,电子 束 扫 描电压与时间正比关系的程度,3.6 主声束main sound beam,由于 声 源 的指向特性在某一方向进行强烈的集中而形成的超声束主瓣,3.7 晶片piezoelectric plate,探 头 中 电声转换元件.,19 扫查方式mode of sweep,探 伤 时 探头移动的方式,3.9 声程range of pulse,声 波 在 工件中传播的路程,3.10 声祸合剂coupling media of pulse,为 了 把 从探头发射的超声波传播给工件，避免探头和工件探伤面之间造成空隙而施加的介质(如水、,国家机械工业局1999-08-0‘批准2000-01-01实施,11 3,JB/T 9674- 1999,机油等),3.11 底波wave of base,工 件 底 面引起的反射波的显示讯号,3.12 缺陷波wave of flaw,缺 陷 引 起的反射波的显示讯号,一般规定,4.1 从事无损探伤的人员，必须具备国家有关主管部门颁发的无损检测人员技术资格证书,4.2 超声波探伤仪的规定,超 声 波 探伤仪应满足以下要求:,a) 仪 器 工作频率应包括1^-5M Hz;,b) 仪 器 标称探测深度应不小于被探试品的高度;,c) 具 有 总衰减量不小于50d B,衰减调节精度为士1d B以下的衰减器;,d) 当 探 伤仪发射功率较大，且电源电压在标称电压士10%范围内变化时，水平线性下不应有明显的,变化,4.3 探头的规定,探 头 应 满足下列要求:,a) 采 用单 直探头，根据需要在1-5M H:范围内选择探头频率，推荐为1.25 M Hz或2.5 M Hz。探,头晶片直径可根据需要选择;,b) 探 头发 射的超声波主声束在垂直方向偏向角应不大于20,4.4 试品的规定,瓷件 两 端 面的平行度和主体轴线直线度应符合GB7 72的规定。探测面应平滑，其粗糙度应不大于,10 pm,45 祸合剂的规定,应 采 用 良好的声胭合剂，如水、机油等，且必须保持祸合剂的清洁.,5 测试要求,5.1 测试不应在有高频电磁场、强烈振动和腐蚀性气体的场所进行,5.2 用人工标准缺陷来确定探伤仪的工作灵敏度.开始探伤前，均需用人工标准缺陷试样重新校准探伤,仪工作灵敏度,5.3 为了确保缺陷不漏检，扫查速度不宜过快。本标准推荐两种扫查方法，对瓷套采用连续式，对实心,瓷件采用间断式。探头一般距瓷件内、外圆弧应不小于5 mm,5.4 对于高度大于800 mm的瓷件，应分别在两端面进行探测,‘ 人工标准缺陷试样,6.1 人工标准缺陷试样要求,不 得 有 影响探测的自然缺陷，在荧光屏上杂乱反射讯号较弱，波形图清晰可辩,‘2 人工标准缺陷试样的制作,对 人 工 标准缺陷试样的制作，是在远离探测面的下端锯一规定深度的锯口，锯口距下端的垂直距离,不小于30 mm，其锯口深度推荐如表1.,7 探伤仪工作灵敏度,探 伤仪工作灵敏度采用人工标准缺陷试样校准,114,dB/T 9674-1999,将 探 头 置于试品远离人工缺陷的端面，调节仪器灵敏度控制旋钮，使第一次人工缺陷波波高为荧光,屏满幅度50%，此时的灵敏度即定为探伤仪工作灵敏度,……
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